日本大学生産工学部 数理情報工学科 新着情報
Mathematical Information Engineering News

国際会議The 16th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS2013, IEEEの主催で2013年4月8・9・10日にチェコ・カルロヴィヴァリ・Spa Resort Sanssouci Karlovy Varyで開催)で,数理情報工学専攻の大学院博士後期課程2年の 山崎紘史さん(細川研究室所属)の論文 "A Don't Care Identification Method for Test Compaction "が採択され,発表しました. 山崎さんの発表内容は,デジタル情報機器に搭載されているシステムLSI(大規模集積回路)のテストコストを削減するためにテストに必要なテストパターン数を削減するものです.具体的にはシステムLSIのテストのために生成された0と1のテスト集合からドントケアと呼ばれる0でも1でも良い値を抽出するときに、一定数以上のドントケアを抽出しながら,外部入力においてドントケアの分散値を低減する手法を提案し,テスト圧縮に効果的であることを示しました.