国際会議25th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS2019)が2019年7月1～3日にギリシャ・ロドス島・Hotel Rodos Palaceで開催され，数理情報工学専攻の大学院博士前期課程２年の石山悠太さん（細川研究室所属）の論文 " A Design for Testability Method for k-Cycle Capture Test Generation” がポスターセッションで採択され，大学院博士前期課程２年の竹内勇希さん（細川研究室所属）の論文" A Controller Augmentation Method to Improve Transition Fault Coverage for RTL Data-Paths"がオーラルセッションで採択され，発表しました．

石山さんの発表内容は，デジタル情報機器に搭載されているシステムLSI（大規模集積回路）のテスト容易化設計に関するものです．具体的にはデータパス中のハードウェア要素がkサイクルで容易にテスト可能なモデルを生成し，そのモデルの動作を実行可能にするために，コントローラの有効状態と無効状態と呼ばれる空間にテスト可能な制御信号を出力するコントローラ拡大という手法を提案しました。この研究内容は株式会社ソシオネクスト社との共同研究によるものです．

竹内さんの発表内容は，システムLSIの遷移故障と呼ばれるタイミング欠陥をモデル化した故障の検出率を向上させるためのテスト容易化設計に関するものです．具体的なは，コントローラから生成される制御信号で検出不能なデータパス中のマルチプレクサやレジスタ及びそれらの制御信号線の故障をテストできるように，コントローラ拡大手法を提案しました．