国際会議32nd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT2019)が2019年10月2～4日にオランダ・ノールトウェイク（ESA-ESTEC）／デルフト（Delft University of Technology）で開催され，数理情報工学専攻の大学院博士前期課程２年の竹内勇希さん（細川研究室所属）の論文"A State Assignment Method to Improve Transition Fault Coverage for Controllers"がポスタセッションで採択され，発表しました．

竹内さんの発表内容は，システムLSIのコントローラの遷移故障と呼ばれるタイミング欠陥をモデル化した故障の検出率を向上させるための状態割当てに関するものです．具体的には，コントローラは有限状態機械でモデル化され，状態の各ビットに対応するフリップフロップの遷移故障ができる限り多くの観測点で検出することが可能となるような状態割当てを提案しました．

竹内君は大学院在籍の2年間で、中国、ギリシャ、オランダと3カ国で開催された3件の国際会議に論文を通し、発表し、非常に顕著な業績を上げられました。卒業後はソニーLSIデザイン株式会社に入社し、システムLSIのテスト容易化設計の業務に携わる予定です。