国際会議20th IEEE The Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT2019)が2019年12月13～14日にインド・コルカタ・The LaLiT Great Eastern Kolkataで開催され，数理情報工学専攻の大学院博士前期課程２年の三澤健一郎さん（細川研究室所属）の論文"A Don’t Care Identification-Filling Co-Optimization Method for Low Capture Power Testing Using Partial MaxSAT "が採択され，大学院博士前期課程1年の池ヶ谷祐輝さん（細川研究室所属）の論文" A Compaction Method of Test Sensitization States on Controller Augmentation "が採択され，発表しました．

三澤さんの発表内容は，システムLSIの低消費電力テストに関するものです．システムLSIをテストするときのテスト集合中に高消費電力テストベクトルが存在すると，その高消費電力テストベクトルは誤テストを引き起こす可能性があります．その高消費電力テストベクトルを低消費電力テストベクトルに変更する研究に取り組んでいます．具体的には，故障検出に関する処理と低消費電力化に関する最適化処理を同時に実行するドントケア割当て手法を提案しました.

池ヶ谷さんの発表内容は，テスト活性化状態の圧縮に関するものです．システムLSIの故障検出率を向上させるために，コントローラの無効状態をテスト活性化状態として設計されていましたが，このテスト活性化状態数が多いとコントローラの面積が大きくなるという課題を有していました．池ヶ谷さんはテスト活性化状態数を削減する研究に取り組んでいます．具体的には，テスト活性化状態において出力する0でも１でもどちらでもよいドントケアの値を用いて，テスト活性化状態間の併合を行う処理と有効状態上にテスト活性化状態を併合する手法を提案しました．