国際会議The 16th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT2015)が2015年11月25～26日にインド・ムンバイ・INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY BOMBAYで開催され，前年度のThe 15th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT2014, IEEEの主催で2014年11月19・20日に中国・杭州・Hangzhou Jinxi Hotelで開催）で細川研究室から発表した論文"A Scheduling Method for Hierarchical Testability Using Results of Test Environment Generation"（Jun Nishimaki, Toshinori Hosokawa, and Hideo Fujiwara)がBest Paper Awardに選ばれ表彰されました．細川研究室から初めて国際会議の賞をいただきました．

Best Paper Awardに選ばれた論文の内容は，システムLSIの上流設計工程で，テストパターンの生成が容易になるように階層テスト容易化を考慮した動作合成アルゴリズムに関するものです．動作合成とは，C言語などを用いてハードウェアの動作を記述したものからレジスタ転送レベル回路を生成するソフトウェアです．過去に細川研究室では，動作合成の中のバインディングという動作記述の変数や演算をレジスタや演算器に割当てる処理について階層テスト容易化を考慮して行うアルゴリズムを提案しました．そのバインディングの効率を高めるためのスケジューリングという演算を実行する時刻を決定する処理について階層テスト容易化を考慮したアルゴリズムを提案しました．階層テスト容易化を考慮した回路を合成することにより，テスト品質の評価尺度である故障検出率が大幅に向上したことを示しました．