国際会議The 16th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS2013, IEEEの主催で2013年4月8・9・10日にチェコ・カルロヴィヴァリ・Spa Resort Sanssouci Karlovy Varyで開催）で，数理情報工学専攻の大学院博士後期課程2年の 山崎紘史さん（細川研究室所属）の論文 "A Don't Care Identification Method for Test Compaction "が採択され，発表しました． 山崎さんの発表内容は，デジタル情報機器に搭載されているシステムLSI（大規模集積回路）のテストコストを削減するためにテストに必要なテストパターン数を削減するものです．具体的にはシステムLSIのテストのために生成された0と1のテスト集合からドントケアと呼ばれる0でも１でも良い値を抽出するときに、一定数以上のドントケアを抽出しながら，外部入力においてドントケアの分散値を低減する手法を提案し，テスト圧縮に効果的であることを示しました．