システム，LSI（大規模集積回路）の設計自動化，テスト，組込みシステムに関する欧州最大の国際会議The 18th Design, Automation & Test in Europe（DATE2015, IEEEの主催で2015年3月9～13日にフランス・グルノーブルで開催）における付属のワークショップDesigning with Uncertaintyで，数理情報工学専攻の大学院博士後期課程3年の山崎紘史さん（細川研究室所属）の論文 "A Multi Cycle Capture Test Generation Method for Low Capture Power Dissipation "が採択され，発表しました．さらに2nd Workshop on Design Automation for Understanding Hardware Designs (DUHDe)で，大学院博士前期課程2年の西間木淳さん（細川研究室所属）の論文"A Binding Method for Hierarchical Testability Using Results of Test Environment Generation "が採択され，発表しました．

山崎さんの発表内容は，デジタル情報機器に搭載されているシステムLSI（大規模集積回路）の低消費電力テストに関するもので，低消費電力向けのテスト生成モデルを提案し，実際にベンチマーク回路を用いて，提案モデルで生成したテストパターンが消費する電力は低消費電力であることを示しました．さらにシステムLSIの製造ばらつきによって，消費電力がばらついた場合を仮定して，提案法で生成したテストパターンで低消費電力テスト不可能な故障数を評価しました．高消費電力な状態でシステムLSIをテストすると，不良品を良品と判定する誤テストを引き起こすことになります．提案モデルを用いると従来手法と比較し，低消費電力テスト不可能な故障数を大幅に削減することができました．山崎さんは4月から日本大学生産工学部教養・基礎科学系の教員として勤務され，さらに研究活動を継続していく予定です．

西間木さんの発表内容は，システムLSIの上流設計工程で，階層テスト容易化を考慮した動作合成アルゴリズムに関するものです．階層テスト生成とは，コントロール／データフーグラフ上の演算に対して，テスト環境と呼ばれる代数記号から構成されるテスト系列のテンプレートのようなものを生成し，実際の演算器のテストパターンをその代数記号に代入し，テスト生成処理を高速化する手法です．また動作合成とは，C言語など を用いてハードウェアの動作を記述したものからレジスタ転送レベル回路を生成するソフトウェアです．動作合成の中のバインディングという動作記述の変数や演算をレジスタや演算器に割当てる処理について，階層テスト容易化を考慮して行うアルゴリズムを提案しました．階層テスト容易化を考慮した回路を合成することにより，テスト品質の評価尺度である故障検出率が大幅に向上したことを示しました．西間木さんは大学院の2年間で，3回国際会議で発表し，素晴らしい研究成果を挙げられました．4月からは企業に就職されていますが，博士号を取得する目標をもっておられます．その目標達成を応援していきたいと思います．